机译:纳米级全息干涉术,用于电子设备中的应变测量
机译:通过现场电学测量研究了基于HfO_2的MOS器件中电子激发引起的缺陷动力学
机译:通过在扫描莫尔条纹成像中对扫描光栅应用整数倍,可重现电子设备中的应变测量
机译:Shearography测量电子设备的热机械应变
机译:低整体对称性的氧化还原活性三价金属表面活性剂,用于基于分子的电子产品:用于m / LB单层/ m器件中电流电压测量的新型分子材料的光谱,电化学和两亲性质。
机译:用于15 MV光子束的增强型动态楔形和治疗计划系统(TPS)计算的线性阵列测量并与电子门成像设备(EPID)测量进行比较
机译:应变测量用电子器件的研究
机译:用于光电器件的氮化物中的应变和量子点操纵;最终的评论。 2004年10月1日至2007年9月30日